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產(chǎn)品型號(hào)：BX-G104
更新時(shí)間：2024-05-15
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
訪問(wèn)量：2412
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產(chǎn)品分類
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關(guān)鍵詞：
激光測(cè)量?jī)x 橢偏儀設(shè)備 橢偏儀 激光校準(zhǔn)儀 高精度激光儀器
產(chǎn)品用途：納米激光橢偏儀
BX-G104針對(duì)光伏太陽(yáng)能電池高-端研發(fā)和質(zhì)量控制領(lǐng)域推出的專用型多入射角激光橢偏儀。BX-G104用于測(cè)量絨面單晶硅或多晶硅太陽(yáng)電池表面減反膜鍍層的厚度以及在632.8nm下的折射率n。也可測(cè)量光滑平面材料上的單層或多層納米薄膜的膜層厚度，以及在632.8nm下折射率n和消光系數(shù)k。 BX-G104融合多項(xiàng)量拓科技專-利技術(shù)，采用單多晶一體化樣品臺(tái)技術(shù)，兼容測(cè)量單晶和多晶太陽(yáng)電池樣品，并實(shí)現(xiàn)二者的瞬間輕松轉(zhuǎn)換。一鍵式多線程操作軟件，使得儀器操作簡(jiǎn)單安全。
儀器特點(diǎn)：納米激光橢偏儀
l 測(cè)量方法：Delta測(cè)量范圍0-360o，無(wú)測(cè)量死角問(wèn)題（即使在0o或180o附近時(shí)也具有極-高的準(zhǔn)確度），也可消除粗糙表面引起的消偏振效應(yīng)對(duì)結(jié)果的影響
l 粗糙絨面納米薄膜的高靈敏測(cè)量：*的光能量增強(qiáng)技術(shù)、低噪聲的探測(cè)器件以及高信噪比的微弱信號(hào)處理方法，實(shí)現(xiàn)了對(duì)粗糙表面散射為主和極低反射率為特征的絨面太陽(yáng)電池表面鍍層的高靈敏檢測(cè)
l 原子層量級(jí)的極-高靈敏度和準(zhǔn)確度：先-進(jìn)的采樣方法、高穩(wěn)定的核心器件、高質(zhì)量的制造工藝實(shí)現(xiàn)并保證了極-高的準(zhǔn)確度和穩(wěn)定性
l 百毫秒量級(jí)的快速測(cè)量：在保證極-高精度和準(zhǔn)確度的同時(shí)，可在幾百毫秒內(nèi)快速完成一次測(cè)量，可滿足快速多點(diǎn)檢測(cè)和批量檢測(cè)需求
l 單多晶測(cè)量快速轉(zhuǎn)換：瞬間完成單晶多晶樣品臺(tái)的轉(zhuǎn)換，方便多種不同樣品頻繁更換的質(zhì)量檢測(cè)現(xiàn)場(chǎng)
l 簡(jiǎn)單方便的儀器操作：一鍵操作即可完成復(fù)雜的樣品測(cè)量和分析；按照質(zhì)控要求進(jìn)行數(shù)據(jù)多種導(dǎo)出；豐富的模型庫(kù)和材料庫(kù)方便用戶的高級(jí)操作；管理員/操作員不同的模式，保證儀器安全
技術(shù)參數(shù)：
